Рентгеновские методы анализа состава, структуры и свойств различных материалов, основанные на взаимодействии рентгеновского излучения с материалом образца.
Рентгеновская дифрактометрия (РД, XRD) - метод неразрушающего контроля, предназначенный для идентификации и количественного определения кристаллических фаз в порошковых и твердых образцах, изучения структуры и размера кристаллитов, качества, однородности твердых материалов и тонких пленок. Международное обозначение метода – XRD (от X-Ray Diffraction).
Оборудование: Рентгеновский дифрактометр SmartLab (RIGAKU)
Рентгенофлуоресцентная спектрометрия с волновой дисперсией (XRF, РФА, РФС) - метод анализа, используемый для определения концентраций элементов от Бериллия (№4) до Урана (№92) в диапазоне от долей ppm до 100% в веществах и материалах различного происхождения. Метод РФА основан на анализе спектра, полученного путём воздействия на исследуемый материал рентгеновским излучением. Для анализа спектра вторичного излучения применяют либо дифракцию рентгеновских лучей на кристалле (волновая дисперсия), либо используют детекторы, чувствительные к энергии поглощенного кванта (энергетическая дисперсия).
Оборудование: Рентгенофлуоресцентный спектрометр ZSX Primus II (RIGAKU)
По вопросам проведения исследований обращаться по телефону +7 (843) 227-40-93
